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日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀PVE-80 一種非接觸式電阻測量系統(tǒng)，使用脈沖電壓激勵方法作為測量原理，可在不損壞樣品的情況下進行測量。

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES 易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量儀：DUORES 根據(jù)測量目標交換和使用兩種類型的探頭（無損探頭和接觸探頭）。

日本napson非接觸式渦流法薄層電阻測量儀NC-10/NC-20 使用個人計算機節(jié)省空間，易于操作和數(shù)據(jù)處理 由于它是一種非接觸式渦流方法，因此可以進行測量而不會損壞它。 由于探頭是可拆卸和可更換的，因此可以方便地用每個量程的探頭進行更換。 （*對第二個和后續(xù)電阻探頭的可選支持） 中心1點測量 厚度/溫度補償功能（硅晶片）

日本napson手持式探針無損渦流法電阻測量儀EC-80P 只需觸摸手持式探頭即可測量電阻。 在電阻/薄層電阻測量模式之間輕松切換 使用JOG撥盤輕松設(shè)置測量條件 連接到連接器的可更換電阻測量探頭可支持多種電阻 （電阻探頭：多可以使用2 + PN判斷探頭）

日本芝浦機電shibaura皮拉尼真空計PG系列 測量范圍廣：1.0 x 10 -1至1.0 x 10 4 Pa 耐故障的恒溫類型 大型數(shù)字廣告，可見度高 小巧的機身可以節(jié)省空間